報告摘要:

This year marks the 110th anniversary not only of Physics at Peking University, but also the discovery of X-ray diffraction by crystals. Since the advent of synchrotron sources, in situ X-ray scattering from surfaces has become a powerful probe to observe the atomic-scale mechanisms of epitaxial film growth. I will present highlights of such studies from the work of our group and others. The new generation of high-coherence X-ray sources presents exciting opportunities for observing dynamics and imaging surfaces during crystal growth.

報告人簡介：

自1995年以來，G. Brian Stephenson博士在阿貢國家實驗室領導同步輻射材料研究小組，并在2011至2014年間擔任先進光子源（Advanced Photon Sources）的一把手。在加入阿貢之前，他曾在紐約的IBM研究中心擔任團隊負責人。Stephenson博士持有麻省理工學院學士學位和斯坦福大學的博士學位，并因其在物理學領域的卓越貢獻于1991年被授予美國物理學會會士榮譽。因其在硬X射線納米探針領域的突出貢獻，他在2009年榮獲了R&D 100獎。Stephenson博士将深入探讨第四代相幹X射線在材料合成過程的動态觀察和成像方面的前景和應用，并分享他在這個領域的深入見解和最新的研究成果。

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