捷克NenoVision公司将在電鏡實驗室開展SEM中原位AFM的試用，并計劃召開小型研讨會，詳細介紹如下，如有相關或感興趣的研究内容，歡迎前來咨詢，參加試用和研讨會！請相互轉告，謝謝！

ThetaScope原位高精度AFM在SEM/FIB中實現原位分析。ThetaScope獨特的探針和掃描電子顯微鏡技術（CPEM），可實現3D成像，實現原位形貌及對比、材料表面粗糙度及力學分析、金屬材料元素分析、表面增強拉曼、生物細胞研究、針尖定位樣品、FIB加工及缺陷檢測等相關測試。

獨特的探針和掃描電子顯微鏡技術（CPEM）

• CPEM提供多維關聯成像–可擴展為3D形貌。

• 使用CPEM，可以快速準确地獲得掃描電鏡圖像和區分材料的對比度。

• CPEM以适當的方式将兩個或多個SEM信号（如SE、BSE、EBIC等）與測量的形貌相關聯。

• CPEM可以在同一試樣上，以相同的測量速度同時測量AFM和SEM。

• 結合了AFM和SEM掃描系統，以得到精确的圖像，同時消除漂移和其他不準确因素。

AFM尖端導航

• 三軸分立、平闆掃描輕松實現在SEM中的形貌呈現。

• 100um*100um的大範圍掃描範圍，在閉環情況下，可以實現0.1nm的分辨率。

• 将SEM和AFM相結合，極其精确、快速地将AFM尖端導航定位到亞微米區域，可應用于粒子分析、半導體、石墨烯結構等。

NenoVision公司網站：https://www.nenovision.com

電鏡實驗室試用時間及研讨會時間：2019年11月26日-27日

聯系方式：010-62755266-127；zhurui@pku.edu.cn